首页> 外文OA文献 >Поведінка InSe-фотоперетворювачів при впливі невеликих доз високоенергетичного гамма-випромінювання
【2h】

Поведінка InSe-фотоперетворювачів при впливі невеликих доз високоенергетичного гамма-випромінювання

机译:InSe光电转换器在小剂量高能伽玛射线照射下的行为

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

Традиційна кремнієва електроніка швидко деградує вже при порівняно помірних дозах радіації. Альтернативою при створенні радіаційно-стійких фотоперетворювачів (ФП) видимого, ближніх ІЧ- і УФ-випромінювань можуть служити кристали унікальної групи А3В6. Запропоновано фізичну модель електронних процесів, що спостерігаються у даних р-n-переходах при опроміненні: на фоні утворення простих точкових дефектів відбувалося суттєве покращення досконалості кристалічної гратки шаруватого селеніду індію внаслідок ефективного “заліковування” власних структурних дефектів.
机译:即使在相对中等的辐射剂量下,传统的硅电子产品也会迅速退化。独特的A3B6基团的晶体可以替代创建可见,近红外和紫外线辐射的抗辐射光电转换器(AF)。提出了在辐射过程中在这些pn结中观察到的电子过程的物理模型:在简单点缺陷形成的背景下,由于有效地“修复”了固有结构缺陷,层状硒化铟的晶格完美性得到了显着改善。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号