The surface morphology, structural properties and chemical composition of Cd1-xZnxTe polycrystalline thick films deposited by close spaced vacuum sublimation

摘要

Тонкі полікристалічні плівки Cd1-xZnxTe з х варіювалися від 0,37 до 0,80 були отримані метод вакуумної сублімація з близькою відстанню. Для дослідження властивостей структурних властивостей були проведені дослідження PIXE і Раман. Визначення хімічного складу плівок за допомогою EDS, PIXE і XRD показало гарне співвідношення результатів. Раман-спектроскопія виявляє зв'язок між концентрацією цинку і коливальними властивостями плівок. Дослідження просторового розподілу хімічних елементів на поверхні плівки за допомогою мікропіксела і мікрорамановской спектроскопії показали, що плівки однорідні і не містять вторинних фаз, таких як CdTe, ZnTe і Те