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Surface Potential and Threshold Voltage Model of Fully Depleted Narrow Channel SOI MOSFET Using Analytical Solution of 3D Poisson’s Equation

机译:使用3D泊松方程的解析解的全耗尽窄通道SOI MOSFET的表面电势和阈值电压模型

摘要

The present paper is about the modeling of surface potential and threshold voltage of Fully DepletedudSilicon on Insulator MOSFET. The surface potential is calculated by solving the 3D Poisson’s equation analytically.udThe appropriate boundary conditions are used in calculations. The effect of narrow channeludwidth and short channel length for suppression of SCE is analyzed. The narrow channel width effect in theudthreshold voltage is analyzed for thin film Fully Depleted SOI MOSFET.
机译:本文是关于绝缘体MOSFET上的全耗尽 udSilicon的表面电势和阈值电压的建模。通过解析地解析3D泊松方程来计算表面电势。 ud在计算中使用适当的边界条件。分析了窄信道超宽和短信道长度对抑制SCE的影响。对薄膜全耗尽SOI MOSFET的阈值电压中的窄沟道宽度效应进行了分析。

著录项

  • 作者单位
  • 年度 2015
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类
  • 入库时间 2022-08-20 20:26:08

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