Study of the structural and photoluminescence properties of CdTe polycrystalline films deposited by close-spaced vacuum sublimation

摘要

Полікристалічні плівки CdTe були отримані методом квазі-замкнутого випаровування при різних температурах підкладки (150-550С). Вимірювання рентгенівської дифракції структурних і субструктурних властивостей цих плівок були проведені для вивчення їх фазового складу і текстури. Такі параметри плівок, як розмір області когерентного розсіювання, рівень мікродеформації та середня щільність дислокацій визначається на основі розширення дифракційних піків. Морфологія поверхні, розмір зерна і механізм росту плівки були визначені методом скануючої електронної мікроскопії. Низько температурна фотолюмінесценція дозволила встановити кореляцію між точковими і протяжними дефектами структури, з одного боку, і умовами зростання з іншого. Як результат були визначені, умови зростання полікристалічних плівок CdTe з достатньо хорошими кристалами і оптичними властивостями.При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3604