Визначення елементного складу та розподілу елементів по поверхні плівок Pb1-xSnxS методами PIXE та µ-PIXE

摘要

Тонкі плівки твердого розчину Pb1-xSnxS можуть бути використані для створення приймачів інфрачервоного випромінювання, твердотільних лазерів та ін. Також ці плівки привертають до себе підвищену увагу дослідників як поглинаючі шари дешевих тонкоплівкових сонячних елементів, альтернативні таким традиційним матеріалам як CuInSe2, CuIn1–xGaxSe2, Cu2ZnSnS4(Se) та CdTe.udУ даній роботі вивчалися плівки Pb1-xSnxTe, отримані методом гарячої стінки у вакуумі на скляних підкладках при різнф температурі нанесення. Для визначення елементного складу конденсатів використовувалося рентгенівське характеристичне випромінювання індуковане протонним пучком (методи PIXE, µ-PIXE). Відповідні дослідження проводилися на мікроаналітичному прискорювальному комплексі «Сокіл» (ІПФ, Суми, Україна) з енергією пучка протонів 1,5 МеВ.