首页> 外文OA文献 >“Design for EMI Suppression” During Reverse Recovery by 600V Lateral SOI PiN Diode with Traps
【2h】

“Design for EMI Suppression” During Reverse Recovery by 600V Lateral SOI PiN Diode with Traps

机译:通过带陷阱的600V横向SOI PiN二极管反向恢复期间的“ EMI抑制设计”

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

PiN diode design for oscillation-induced EMI suppression is proposed with novel structure. The proposed diode is lateral structure with traps using SOI substrate. Conventional PiN diode with vertical structure generates waveform oscillation and the oscillation lower power electronics system reliability. The design of proposed lateral structure with traps will contributes the performance improvement of all of bipolar power devices including IGBT.
机译:提出了一种新颖的结构用于振荡抑制EMI的PiN二极管设计。所提出的二极管是使用SOI衬底的带有陷阱的横向结构。具有垂直结构的常规PiN二极管产生波形振荡,并且该振荡降低了电力电子系统的可靠性。建议的带有陷阱的横向结构的设计将有助于改善包括IGBT在内的所有双极型功率器件的性能。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号