Real-Time Displaying Quality Maps of Silicon Wafers

摘要

Cílem této bakalářské práce je navrhnout a implementovat softwarový systém, který dokáže v reálném čase sbírat data z průběhů měření křemíkových plátů. Může se jednat o desítky až stovky měření a data z těchto měření jsou uživatelům vykreslována (taktéž v reálném čase). Práce obsahuje popis procesu výroby a testování integrovaných obvodů. Následně pak návrh architektury systému aplikací, vnitřní architektury serveru a grafického uživatelského rozhraní klientské aplikace. V poslední části je ukázáno, jakým způsobem bylo implementováno vykreslování křemíkových plátů na platformě JavaFX 2.2 a hybridní vícevláknová architektura serveru.