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Using the Microscope for Diagnostics of Structure of Materials and Fault El. Equipment

机译:使用显微镜对材料和断层结构进行诊断El。设备

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摘要

The goal of this thesis is to describe the possibility of using a microscope for documentation of defects and innovation of electrical machines. I used an electron microscope to document carbon brushes and nanomaterials for possible upgrade of the sliding contact. Used microscopes gives us detailed information about the structure of materials at locations with the largest stress in the electrical machine. Collected data can be further analyzed and and carbon brushes can be innovated according to the results.
机译:本文的目的是描述使用显微镜记录缺陷和电机创新的可能性。我使用电子显微镜记录了碳刷和纳米材料的情况,以实现滑动接触的升级。二手显微镜为我们提供了有关电机中应力最大的位置处材料结构的详细信息。可以进一步分析收集的数据,并根据结果对碳刷进行创新。

著录项

  • 作者

    Cvak J.;

  • 作者单位
  • 年度 2015
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"cs","name":"Czech","id":5}
  • 中图分类

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