Comparison of X-ray microtomography possibilities of application in metrology with conventional approaches

摘要

Bc. Marek Budiš Srovnání možností uplatnění rentgenové mikrotomografie v metrologii s konvenčními přístupy Diplomová práce, Ústav výrobních strojů, systémů a robotiky, VUT FSI v Brně Tato diplomová práce je zaměřena na analýzu metrologických možností využití metody rentgenové počítačové mikrotomografie v průmyslu. Práce obsahuje popis metody, zařízení a měření. Uvedeny jsou hlavní výhody měření pomocí rentgenové mikrotomografie, oproti souřadnicovému měřícímu stroji. Dále se práce zabývá přesností měření mikrotomografické stanice GE V|tome|x L240, analýzou zdrojů nejistoty kalibrace, a jejímu vyčíslení. V rámci práce byla také vytvořena praktická tabulka pro výpočet nejistoty výsledku měření. Součástí praktické části bylo také měření na reálných vzorcích z průmyslu.