首页> 外文OA文献 >Voltage contrast method at detection of secondary electrons by scintillation detector in VP SEM
【2h】

Voltage contrast method at detection of secondary electrons by scintillation detector in VP SEM

机译:VP SEM中闪烁检测器检测二次电子的电压对比法

摘要

Tato diplomová práce se zabývá problematikou elektronového rastrovacího mikroskopu pracujícího při vyšším tlaku v komoře vzorku. Hlavním cílem práce bylo sledování napěťového kontrastu na přechodu PN výkonového transistoru za vhodných pracovních podmínek za pomocí environmentální rastrovacího mikroskopu. Pozorování vzorku bylo umožněno pomocí scintilačního detektoru určeného pro pozorování ve vysokém tlaku.
机译:该文凭论文涉及在样品室中在较高压力下运行的电子扫描显微镜的问题。这项工作的主要目的是使用环境扫描显微镜在合适的工作条件下监视PN功率晶体管结的电压对比度。通过设计用于高压观察的闪烁检测器可以观察样品。

著录项

  • 作者

    Jabůrek Ladislav;

  • 作者单位
  • 年度 2011
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"cs","name":"Czech","id":5}
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号