首页> 外文OA文献 >Adjustment of scene for electronic devices detection
【2h】

Adjustment of scene for electronic devices detection

机译:调整电子设备检测场景

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

Práce se zabývá řešením projektu automatizované výroby hrotu na ladičce oscilátoru (tuning fork with tip) pro mikroskop atomárních sil – AFM. Z důvodu proměnlivosti parametrů hrotů na ladičce oscilátoru vyráběných dosavadní ruční metodou (každý hrot je jiný) je vyvinuto výrobní zařízení, které odbourává nedostatky dosavadního ručního řešení – konstantní parametry. Práce obsahuje popis hardwarového a softwarového vybavení tohoto zařízení na výrobu.
机译:该工作解决了原子力显微镜AFM的振荡器调谐器(带尖端的音叉)上尖端自动生产项目的解决方案。由于当前手动方法生产的振荡器调谐器上的吸头参数的可变性(每个吸头不同),因此开发了一种生产设备,该设备消除了当前手动解决方案的缺点-恒定参数。该作品包含对该生产设备的硬件和软件设备的描述。

著录项

  • 作者

    Hynčica Tomáš;

  • 作者单位
  • 年度 2010
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"cs","name":"Czech","id":5}
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号