首页> 外文OA文献 >Using the Microscope for diagnostics of Structure of Materials and Fault El. Equipment
【2h】

Using the Microscope for diagnostics of Structure of Materials and Fault El. Equipment

机译:使用显微镜诊断材料结构和故障El。设备

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

Cílem této práce je popsat možnosti využití mikroskopu pro dokumentaci vad a inovací elektrických strojů. Použil jsem elektronový mikroskop pro zdokumentování uhlíkových kartáčů a nanomateriálů pro možnou inovaci kluzného kontaktu. Využití mikroskopů nám dává detailnější informace o struktuře materiálů, v místech největšího namáhání elektrického stroje. Na základě zjištěných údajů, lze pokračovat v analýze a inovaci uhlíkového kartáče.
机译:这项工作的目的是描述使用显微镜记录电机的缺陷和创新的可能性。我使用电子显微镜记录了可能进行滑动接触创新的碳刷和纳米材料。在电机承受最大压力的地方,显微镜的使用为我们提供了有关材料结构的更多详细信息。根据获得的数据,可以继续进行碳刷的分析和创新。

著录项

  • 作者

    Cvak Jan;

  • 作者单位
  • 年度 2015
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"cs","name":"Czech","id":5}
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号