首页> 外文OA文献 >走査トンネル顕微鏡・分光法による半導体表面上の水素・金属原子吸着プロセスの研究
【2h】

走査トンネル顕微鏡・分光法による半導体表面上の水素・金属原子吸着プロセスの研究

机译:扫描隧道显微镜/光谱法研究氢/金属原子在半导体表面的吸附过程

摘要

九州工業大学博士学位論文 学位記番号:工博甲第131号 学位授与年月日:平成11年6月30日
机译:九州工业大学博士论文:工房第131号授予日期:1999年6月30日

著录项

  • 作者

    渡邉 晃彦;

  • 作者单位
  • 年度 1999
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ja
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号