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Parameter extraction and evaluation of the Bias dependence of Tf, for the VBIC Model used on a GaAs HBT

机译:GaAs HBT上使用的VBIC模型的参数提取和Tf的偏置依存性评估

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摘要

This paper presents a practical method of extracting the bias dependent parameters of the forward transit time Tf, implemented in the VBIC model used on a GaAs HBT. The work should be of great value for the circuit designers, who want to have an easy practical way of including good model parameters from a few simple measurements. This paper includes an evaluation of the implemented bias dependence of Tf in the VBIC model. The VBIC model is extracted from measurements on a GaAs HBT made by Caswell Technology. The model shows good agreement with these measurements.
机译:本文提出了一种在GaAs HBT上使用的VBIC模型中实现的,提取前移时间Tf的与偏置有关的参数的实用方法。这项工作对于电路设计人员来说应该是非常有价值的,他们希望有一种简单实用的方法,通过一些简单的测量就可以包括良好的模型参数。本文包括对VBIC模型中Tf的已实现偏置依赖性的评估。 VBIC模型是从Caswell Technology制造的GaAs HBT上的测量中提取的。该模型与这些测量值显示出良好的一致性。

著录项

  • 作者

    Olavsbråten Morten;

  • 作者单位
  • 年度 2001
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 it
  • 中图分类

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