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First-principles analysis of MoS2/Ti2C and MoS2/Ti2CY2 (Y=F and OH) all-2D semiconductor/metal contacts

机译:MoS2 / Ti2C和MoS2 / Ti2CY2(Y = F和OH)全二维半导体/金属触点的第一性原理分析

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摘要

First-principles calculations are used to explore the geometry, bonding, and electronic properties of MoS2/Ti2C and MoS2/Ti2CY2 (Y = F and OH) semiconductor/metal contacts. The structure of the interfaces is determined. Strong chemical bonds formed at the MoS2/Ti2C interface result in additional states next to the Fermi level, which extend over the three atomic layers of MoS2 and induce a metallic character. The interaction in MoS2/Ti2CY2, on the other hand, is weak and not sensitive to the specific geometry, and the semiconducting nature thus is preserved. The energy level alignment implies weak and strong n-type doping of MoS2 in MoS2/Ti2CF2 and MoS2/Ti2C(OH)2, respectively. The corresponding n-type Schottky barrier heights are 0.85 and 0.26 eV. We show that the MoS2/Ti2CF2 interface is close to the Schottky limit. At the MoS2/Ti2C(OH)2 interface, we find that a strong dipole due to charge rearrangement induces the Schottky barrier. The present interfaces are well suited for application in all-two-dimensional devices.
机译:第一性原理计算用于探索MoS2 / Ti2C和MoS2 / Ti2CY2(Y = F和OH)半导体/金属触点的几何形状,键合和电子性能。确定接口的结构。在MoS2 / Ti2C界面处形成的强化学键会导致费米能级附近的其他状态,这些状态在MoS2的三个原子层上延伸并产生金属特性。另一方面,MoS2 / Ti2CY2中的相互作用较弱,并且对特定的几何形状不敏感,因此保留了半导体性质。能级对齐意味着分别在MoS2 / Ti2CF2和MoS2 / Ti2C(OH)2中对MoS2进行弱和强n型掺杂。相应的n型肖特基势垒高度为0.85和0.26 eV。我们显示MoS2 / Ti2CF2接口接近肖特基极限。在MoS2 / Ti2C(OH)2界面上,我们发现由于电荷重排而产生的强偶极子会诱发肖特基势垒。本接口非常适合在全二维设备中的应用。

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