机译:通过分析定量X射线光电子能谱(XPS)和反射电子能量损失能谱(REELS)分析材料(聚合物,导体和氧化物)的电子和光学性质
机译:通过理论模拟TB-MBJ(Tran-Blaha修饰BECKE JOHNSON)的电子和光学特性与分析技术XPS(X射线光电子谱)相关; 卷轴(反射电子能损光谱)和PLS(光致发光光谱)
机译:借助可见光谱,X射线光电子能谱(XPS)和电子能量损失能谱(EELS)分析CoCl_4〜(2-)离子的电子结构
机译:磷注入硅的电子结构和具有硅杂质的二氧化硅的量子点的高分辨率X射线光电子能谱和特征电子能损谱
机译:Al_2O_3,ZrO_2和SRTIO_3的电子结构和光学性质的表征免受价位反射电子能量损失光谱分析的分析
机译:使用X射线光电子能谱,俄歇电子能谱,电子能量损失能谱和低能电子衍射来表征氧化铝的电子和几何结构。
机译:通过俄歇电子能谱和X射线光电子能谱定量测定表面成分的有效衰减长度
机译:从价态反射电子能量损失谱分析al2O3,ZrO2和srTiO3的电子结构和光学性质
机译:用aEs(俄歇电子能谱),Xps(诱导光电子能谱),EELs(电子能量损失谱)和LEED(低能电子衍射)研究Fe-si合金的初始氧化