Synthèse, Caractérisation par la Diffraction des RX par udla Poudre et Etude Structurale, par la Méthode de Rietveld, udde la Phase Tetragonale de la Solution Solide deud Zirconate-Titanate de Plomb

摘要

L'objectif principal de ce mémoire reposait sur la synthèse, la caractérisation par la diffraction des rayons X par la poudre et l’étude structurale par la méthode de Rietveld des céramiques piézoélectriques, à base de plomb associé au zirconium et au titane PZT de la phase tetragonale.udLa structure de Pb (Zr0.3, Ti0.7) O3 est décrite sous forme cubique où les sommets sont occupés par les atomes de plomb (Pb), le centre est occupé par les atomes Ti ou Zr et les faces centrées par les oxygènes O1 et O2. udLa diffraction par les rayons X associée à l'analyse thermiques (ATD, ATG et DSC), a permis d'établir l'ensemble des schémas des séquences de formation de la solution solide zirconate-titanate de plomb, en présence du dopant CaO.udMots-clés:udMéthode de Rietveld / Phase tetragonale / Diffraction des rayons X par les poudres / Structure cristalline / Analyse thermique / Zirconate-titanate de plomb / Céramique piézoélectrique