机译:201C的电气和可靠性研究;湿$ hbox {N} _ {2} hbox {O} $ 201D;硅上生长的隧道氧化物,用于闪存应用
机译:使用NO-或$ hbox {N} _ {2} hbox {O} $-生长的氧氮化物作为隧道层的金属-氧化物-氮化物-氧化物-硅闪存的性能和可靠性的改进
机译:N_2O氧化隧道氧化物可提高氧化硅-氮化物-氧化硅-硅非易失性存储器的保留可靠性
机译:SONOS闪存中不同隧道氧化物的电学和可靠性特性比较
机译:纳米晶硅/氧化硅超晶格:纳米闪存的制造,表征和应用。
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机译:硅上生长的用于闪存应用的“湿$ N_2O $”隧道氧化物的电学和可靠性研究
机译:硅器件中的载流子传输研究:用于存储器件应用的多层绝缘体的电学和光学研究。