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机译:通过i-砧在金刚石砧室中进行原位温度测量。
Gondé Charlotte; Bureau Hélène; Burchard M.; Henry S.; Simon G.; Meijer J.; Kubsky S.;
机译:通过金刚石砧座中的i-砧进行原位温度测量
机译:金刚石砧盒中高温和高压下的原位X射线衍射和电阻组合测量
机译:金刚石砧室中原位电阻法测量CdTe在高温高压下的电子输运性质
机译:使用激光加热的金刚石砧座在高压和温度下原位同步X射线衍射的实验问题
机译:加热的金刚石-角铁能量-扩散技术(高温热力学,锡,方程状态)在高温和高温下材料的体积和熵系统。
机译:环形金刚石砧盒可在极高静压力下进行详细测量
机译:晶片处理反应器的原位温度测量方法和晶片处理反应器的原位温度测量系统
机译:使用原位晶圆温度光学探头,基于连续的晶圆温度测量,对等离子体反应器中的晶圆温度漂移进行校正
机译:基于连续的晶圆温度测量和使用原位晶圆温度光学探头,可校正等离子体反应器中的晶圆温度漂移
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