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【2h】

Characterization of generation–recombination noise using a physics-based device noise simulator

机译:使用基于物理学的设备噪声模拟器对生成-重组噪声进行表征

摘要

Microelectronics Reliability 40 (2000) 1883-1886. doi:10.1016/S0026-2714(00)00071-8
机译:微电子可靠性40(2000)1883-1886。 doi:10.1016 / S0026-2714(00)00071-8

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