首页> 外文OA文献 >AES depth profile and photoconductive studies of AgInS2 thin films prepared by co-evaporation
【2h】

AES depth profile and photoconductive studies of AgInS2 thin films prepared by co-evaporation

机译:共蒸发制备的AgInS2薄膜的AES深度分布和光电导研究

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

En este trabajo se crecieron películas delgadas de AgInS2 con estructura tetragonal tipo calcopirita usando un procedimiento basado en la evaporación secuencial de precursores metálicos en presencia de azufre elemental, en un proceso en dos etapas. Se investigó el efecto de la temperatura de crecimiento y la proporción de la masa de Ag evaporada a la masa de In evaporada (mAg/mIn) sobre la fase y la homogeneidad en la composición química a través de medidas de difracción de rayos X y espectroscopía de electrones Auger. Estas medidas mostraron que las condiciones para preparar películas delgadas que contengan únicamente la fase AgInS2, crecidas con estructura tipo calcopirita tetragonal y buena homogeneidad de la composición química en todo el volumen son temperatura de 500 °C y proporción mAg/mIn 0.89.  Las medidas de fotocorriente de transiente indicaron que el transporte eléctrico es afectado por procesos de recombinación, vía transiciones banda a banda y transiciones asistidas por trampas.
机译:在这项工作中,使用基于在元素硫存在下依次蒸发金属前体的过程,以两步法生长具有黄铜矿状四方结构的AgInS2薄膜。通过X射线衍射和光谱测量研究了生长温度和蒸发的Ag质量与蒸发的In质量之比(mAg / mIn)对化学组成的相和均匀性的影响。俄歇电子。这些测量结果表明,制备仅包含AgInS2相,生长为四方黄铜矿状结构且在整个体积中化学成分均一性良好的薄膜的条件是温度为500°C,比率为0.89 mAg / mIn。瞬态光电流测量表明,电传输受重组过程的影响,这些重组过程是通过带间跃迁和陷阱辅助跃迁来实现的。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号