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A study on device characterization of polycrystalline-silicon thin-film transistors

机译：多晶硅薄膜晶体管的器件表征研究

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Thesis (Ph. D. in Engineering)--University of Tsukuba, (A), no. 5285, 2010.3.25

机译：论文（工程学博士学位）-筑波大学，（A），没有。 5285，2010.3.25

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作者
池田裕幸; イケダヒロユキ;
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作者单位

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年度 2010
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