半導体量子ドットにおけるコヒーレンスの超高感度光検出 : 光ヘテロダイン検出法を利用したフォトンエコー

机译：半导体量子点相干性的超灵敏光电检测：使用光学外差检测方法的光子回波

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量子ビットとしての応用が期待される半導体量子ドット中の励起子のコヒーレンス時間と,これを高感度に測定できる光ヘテロダイン検出を用いた高感度フォトンエコー法について紹介する.実際に,2種類の単層の自己形成量子ドットに対して用いた結果についても報告する.

机译：我们将介绍激子在有望用作量子位的半导体量子点中的相干时间，以及采用光学外差检测技术的高灵敏度光子回波方法，该方法可以高灵敏度地对其进行测量。我们还报告了用于层中自组装量子点的结果。

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作者
池沢道男; 舛本泰章;
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作者单位

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年度 2007
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