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In-situ heavily p-type doping of over 1020 cm−3 in semiconducting BaSi2 thin films for solar cells applications

机译:在用于太阳能电池的半导体BaSi2薄膜中进行1020 cm-3的原位重p型掺杂

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摘要

B-doped p-BaSi2 layer growth by molecular beam epitaxy and the influence of rapid thermal annealing (RTA) on hole concentrations were presented. The hole concentration was controlled in the range between 1017 and 1020 cm−3 at room temperature by changing the temperature of the B Knudsen cell crucible. The acceptor level of the B atoms was estimated to be approximately 23 meV. High hole concentrations exceeding 1 × 1020 cm−3 were achieved via dopant activation using RTA at 800 °C in Ar. The activation efficiency was increased up to 10%.
机译:提出了通过分子束外延生长B掺杂的p-BaSi2层以及快速热退火(RTA)对空穴浓度的影响。通过改变B Knudsen电池坩埚的温度,在室温下将空穴浓度控制在1017至1020 cm-3之间。 B原子的受主能级估计约为23 meV。在Ar中,通过在800 C下使用RTA进行掺杂激活,可以实现超过1×1020 cm-3的高空穴浓度。激活效率提高到10%。

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