机译:超过摩尔纳米技术产品的微电子可靠性模型
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机译:建模微电子可靠性(MR)的三步概念(TSC):玻尔兹曼-阿伦尼乌斯-舒尔科夫(BAZ)概率失效物理方程夹在两个统计模型之间
机译:汽车安全应用中基于微技术和纳米技术的产品的可靠性要求
机译:使用加速降解测试设计,建模和贝叶斯推断评估高度可靠产品的可靠性
机译:以质量变化为中心的产品制造可靠性以智能制造系统的多层耦合操作特性为中心
机译:微电子可靠性模型不仅限于摩尔纳米技术产品
机译:预测大气腐蚀对微电子可靠性影响的物理模型