机译:使用机电阻抗谱和反距离权重插值的损伤定位图:薄复合结构的实验验证
机译:使用机电阻抗谱和反距离权重插值的损伤定位图:薄复合结构的实验验证
机译:逆距离加权(IDW)多元插值方法在世界地图上使用ALPHA-1抗胰蛋白酶缺陷PI * Z和PI * S基因频率分布
机译:机电阻抗响应裂缝损坏L形梁结构的损伤检测:分析方法和实验验证
机译:距离距离加权和克里金空间插值,用于数据中心热监控
机译:使用实验数据进行动态结构的损伤检测和定位。
机译:通过逆距离加权(IDW)多元插值方法在世界地图上使用Alpha-1抗胰蛋白酶缺陷PI * Z和PI * S基因频率分布
机译:补充信息15:跨验证结果确定生态参数的逆距离加权(IDW)内插的最佳功率值。