首页> 外文OA文献 >Etude du comportement mécanique des joints de brasure Au-Geudpour le report des composants SiC pour l’électronique deudpuissance haute température
【2h】

Etude du comportement mécanique des joints de brasure Au-Geudpour le report des composants SiC pour l’électronique deudpuissance haute température

机译:Au-Ge ud焊点力学行为的研究用于将SiC组件转移到 ud的电子设备高温电源

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

Ce papier contribue à l'étude de nouvelles technologies d’assemblage des puces en SiC utilisées dans les modules de puissance hautes températures (250°C). En effet, parmi tous les matériaux entrant dans l’assemblage de ces modules de puissance, le matériau de report des puces sur les substrats fait partie des matériaux les plus susceptibles aux contraintes thermomécaniques. Ainsi, pour répondre auxudproblématiques d'assemblage de ces puces en SiC, de nouvelles solutions de brasure doivent être développées. L’alliage de brasure Au-Ge peut être utilisé comme alliage de brasure sans plomb pour la haute température grâce à ses bonnes propriétés thermiques et mécaniques. Dans cet article, l’étude du comportement mécanique des joints formés avec la brasure Au-Ge et les puces en SiC, a été réalisée dans le but d’évaluer la robustesse et la fiabilité de ces jonctions en haute température.
机译:本文致力于研究用于高温功率模块(250°C)的SiC芯片组装的新技术。实际上,在这些功率模块的组装中使用的所有材料中,基板上的芯片转移材料是最容易受到热机械约束的材料之一。因此,为了应对这些SiC芯片的组装问题,必须开发新的焊接解决方案。由于其良好的热和机械性能,Au-Ge焊料合金可用作高温的无铅焊料合金。在本文中,对Au-Ge焊料和SiC芯片形成的接头的机械性能进行了研究,以评估这些接头在高温下的坚固性和可靠性。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号