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机译:外太空辐射对半导体器件性能的影响
Стросінський С. В.; Strosinskyy S. V.;
机译:具有移动性离子缺陷的固态器件的性能。第一部分:金属垂直条形半导体垂直条形金属器件中运动,空间电荷和接触电势的影响
机译:半导体器件中空间辐射损伤效应的Alpha粒子模拟
机译:航天电子半导体器件的辐射测试
机译:研究用于电子零件选择的半导体器件中的自然空间辐射效应
机译:电离辐射对纳米材料和III-V半导体器件的影响。
机译:ZnON半导体中阴离子或空位之间的共振相互作用及其对薄膜器件性能的影响
机译:半导体器件中的高能量辐射效应 ud用于太空应用
机译:基于聚焦脉冲硬膜辐射源对逆转康普顿散射的影响,测试电子设备以实现外层空间的重带粒子的影响的方法
机译:一种测试半导体技术的方法LSI CMOS / SOI对暴露于重电荷粒子外部空间的单一破坏的抵抗力
机译:航天飞机火箭,仅超音速/束元星乘客,一架客机/货机,地面真空航空半人马座和卫星小星真空空间站,以及天王星/冥王星/火星/月球/各种宇宙星基半人马座和外层空间研究,并非如此·120°·高温,低温,Sokol纤维,左右中间隔热砖应变消除垫,热和冷隔热保护盖普勒皮和钛/水泥混凝土宇宙建材和地球/太空之星半导体/各种工业生产/产品真空工厂100%纯半导体/其他工业产品0°/平面/ 90°·发射·基于单元,设施,建筑物。
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