首页> 外文OA文献 >Recent Developments in the X-Ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials

【2h】

Recent Developments in the X-Ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials

机译：多层薄膜材料的粗糙表面和界面的X射线反射率分析的最新进展

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

摘要
著录项
引文网络
相似文献
相关主题

摘要

Article ID 678361

机译：商品号678361

著录项

作者
Fujii Yoshikazu;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2013
总页数
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Recent Developments in the X-Ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials [J] . Fujii Yoshikazu Journal of Materials . 2013,第2期

机译：多层薄膜材料的粗糙表面和界面的X射线反射率分析的最新进展
2. Recent Developments in the X-Ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials [J] . YoshikazuFujii Journal of Materials . 2013,第1期

机译：多层薄膜材料的粗糙表面和界面的X射线反射率分析的最新进展
3. Recent Developments in the X-Ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials [J] . Fujii Yoshikazu Journal of Materials . 2013,第1期

机译：多层薄膜材料的粗糙表面和界面的X射线反射率分析的最新进展
4. Thickness and Roughness Analysis on YSZ/Si(001) Epitaxial Films with Ultra Thin SiO_2 Interface by X-Ray Reflectivity [C] . Chun-Hua Chen, Naoki Wakiya, Atsushi Saiki Electronics Division Meeting of the Ceramic Society of Japan . 2000

机译：通过X射线反射率与超薄SiO_2接口的YSZ / Si（001）外延膜的厚度和粗糙度分析
5. X-ray Photoelectron Spectroscopy Studies of Solute Depth Distributions at the Liquid/Vapor Interface of Aqueous Solutions and Surface Structure of Pyrite Thin Films. [D] . Cheng, Ming Hsin. 2011

机译：X射线光电子能谱研究水溶液/液界面的溶质深度分布和黄铁矿薄膜的表面结构。
6. Multilayered Thin Films from Boronic Acid-Functional Poly(amido amine)s As Drug-Releasing Surfaces [O] . Sry D. Hujaya, Johan F. J. Engbersen, Jos M. J. Paulusse -1

机译：硼酸官能化聚（酰胺基胺）的多层薄膜作为药物释放表面
7. X-ray resonant magnetic scattering from structurally and magnetically rough interfaces in multilayered systems I. Specular reflectivity [O] . Lee, D. R., Haskel, D., Choi, Y., 2003

机译：结构和磁场的X射线共振磁散射多层系统中的粗糙界面I.镜面反射率
8. Development of Fundamental Understanding of Friction and Wear Mechanisms byAtomic-Scale Tribological Studies of Ceramic Materials and Multilayered Thin Films [R] . Bhusham, B. 1993

机译：通过陶瓷材料和多层薄膜的原子级摩擦学研究开发对摩擦磨损机理的基本理解

Recent Developments in the X-Ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials

摘要

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅