机译:使用恒定漏极电流深电平瞬态光谱法直接比较InAIN / GaN和AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管中的陷阱
机译:分析缓冲陷阱对AlGaN / GaN HEMT中栅极滞后,漏极滞后和电流崩溃的影响
机译:电流运输与深疏水陷阱对AlGaN / GaN HEMT漏电流和电容滞后的影响
机译:在排水胁迫后,在AlGaN / GaN Mis-Hemts的栅极排水接入区域中捕获
机译:处理表面状态的传输拐点和电荷陷阱对AlGaN / GaN HFET漏极电流的影响。
机译:二维电子气上的供体样表面陷阱以及AlGaN / GaN HEMT的电流崩塌
机译:AlGaN / GaN HFET的鳍和岛隔离以及AlGaN / GaN HFET的漏电流特性随温度变化的模型