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【2h】

Prediction of mean time between failures of electronic subsystems from component failure rates determined under varying environmental conditions

机译:根据在不同环境条件下确定的组件故障率来预测电子子系统故障之间的平均时间

摘要

Call number: LD2668 .R4 1965 H589
机译:电话号码:LD2668 .R4 1965 H589

著录项

  • 作者

    Hetland Joel S.;

  • 作者单位
  • 年度 1965
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类
  • 入库时间 2022-08-31 14:42:06

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