机译:用开尔文探针力显微镜测量法(KPFM)研究Cu_3BiS_3-缓冲层的异质结构
机译:用开尔文探针力显微镜和表面光电压测量研究Cu3BiS3的结形成
机译:用开尔文探针力显微镜测量1.3 / splμm/ m埋入式异质结构激光二极管的劈开镜面的接触电势
机译:Kelvin探针力显微镜测量AlGaN / GaN异质结构和N-GaN的表面接触电位
机译:开尔文探头力显微镜的基础及其在太阳能电池特征中的应用
机译:用开尔文探针力显微镜和表面光电压测量研究Cu3BiS3的结形成
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