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Fast-Ion Losses due to Externally Applied Static Magnetic Perturbations in the Large Helical Device

机译:大型螺旋设备中外部施加的静磁扰动导致的快速离子损失

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摘要

In this study, using a scintillator-based lost fast-ion probe, we have measured fast-ion losses in the Large Helical Device, in which the losses were caused by externally applied static magnetic perturbations (MPs) having small amplitudes. Energy and pitch-angle resolved measurements reveal that the effects of MPs on fast-ion losses occur in both high and low pitch-angle regions. A Lorentz orbit-following calculation indicates that static MPs can change the orbits of fast ions, which can enhance the transport/loss of fast ions.
机译:在这项研究中,我们使用了基于闪烁体的快速离子损失探针,我们测量了大型螺旋装置中的快速离子损失,其中该损失是由外部施加的振幅较小的静磁扰动(MP)引起的。能量和螺距角分辨的测量结果表明,MP对快离子损失的影响同时出现在高螺距角区域和低螺距角区域。洛伦兹轨道跟踪计算表明,静态MP可以改变快离子的轨道,这可以提高快离子的传输/损失。

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