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【2h】

Development of Impurity Profile Diagnostics in the Ergodic Layer of LHD Using 3 m Normal Incidence VUV Spectrometer

机译：使用3 m垂直入射VUV光谱仪开发LHD遍历层中的杂质分布诊断

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T. Oishi; S. Morita; C.F. Dong; E.H. Wang; X.L. Huang; M. Goto;
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年度 100
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1. Development of Impurity Profile Diagnostics in the Ergodic Layer of LHD using 3 m Normal Incidence VUV Spectrometer [J] . Tetsutarou OISHI, Shigeru MORITA, Chunfeng DONG, Plasma and Fusion Research . 2013,第6期

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2. A study on plasma edge boundary in ergodic layer of LHD based on radial profile measurement of impurity line emissions [J] . Dong C., Morita S., Kobayashi M., Physics of plasmas . 2011,第8期

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3. Space-resolved 3 m normal incidence spectrometer for edge impurity diagnostics in the large helical device [J] . Tetsutarou Oishi, Shigeru Morita, Chunfeng Dong, Applied optics . 2014,第29期

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