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【2h】

Fault-based ATPG for linear analog circuits with minimal size multifrequency test sets

机译：基于故障的ATPG，用于线性模拟电路，具有最小尺寸的多频测试仪

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Mir, S. et al.

机译：Mir，S。等。

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Mir S.;
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年度 1996
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