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AFM and TEM study of the lateral composition modulation in etched and photo etched InxGa1−xP epitaxial layers

机译：AFM和TEM研究InxGa1-xP外延层和蚀刻层中的横向成分调制

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5 páginas, 4 figuras.-- Póster presentado al DRIP-IX : 9ª International Conference on Defects- Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors celebrada en Rimini (Italia) del 24 al 28 de Septiembre de 2001.

机译：5页4图。-2001年9月24日至28日在意大利里米尼举行的DRIP-IX：第九届国际缺陷-半导体识别，成像和物理国际会议上展示了海报。

著录项

作者
Eremenko V.; González Sotos Luisa; González Díez Yolanda; Vdovin V.; Vázquez Luis; Aragón G.; Herrera Miriam; Briones Fernández-Pola Fernando;
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作者单位

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年度 2002
总页数
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类
入库时间 2022-08-20 20:20:25

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