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導電帶與價電帶井深比例對405-nm氮化銦鎵量子井雷射特性之影響

机译:导电带与价电带井深比例对405-nm氮化铟镓量子井雷射特性之影响

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摘要

[[abstract]]The effect of band-offset ratio on the characteristics of the 405-nm InGaN quantum-well lasers is studied numerically. Specifically, the optical properties are investigated when the band-offset ratio of the InxGa1-xN/InyGa1-yN heterojunction is 7/3. Compared to a band-off-set ratio of 3/7, which was widely accepted before the year 2002, the laser performance is better and the distribution of carrier concentration in the quantum wells becomes more uniform when the band-offset ratio is 7/3, which is accepted by most researchers recently. Several formulae are derived from simulations, which can be used as a handy tool to calculate the thickness of InxGa1-xN well layer in the 405-nm laser structure for specific indium compositions of InxGa1-xN well alyer and InyGa1-yN barrier layer.
机译:[[摘要]]数值研究了带隙比对405 nm InGaN量子阱激光器特性的影响。具体地,当InxGa1-xN / InyGa1-yN异质结的带隙比为7/3时,研究光学性质。与2002年之前被广泛接受的带隙比3/7相比,当带隙比为7 /时,激光性能更好,量子阱中载流子浓度的分布更加均匀。 3,最近被大多数研究人员接受。从模拟中得出了一些公式,这些公式可用作计算InxGa1-xN阱层和InyGa1-yN阻挡层的特定铟组成的405 nm激光结构中InxGa1-xN阱层厚度的便捷工具。

著录项

  • 作者

    Liou Bo-Ting;

  • 作者单位
  • 年度 2012
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类

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