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Accurate Hotspot Localization by Sampling the Near-Field Pattern of Electronic Devices

机译:通过对电子设备的近场模式进行采样来进行准确的热点定位

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摘要

This letter describes a new automated scanningalgorithm to identify hotspots (regions with electric or magnetic near-field values above a specific threshold) in the planar nearfield profile of electronic systems. The algorithm sequentially determines a set of optimal scanning coordinates where experimental measurements should be performed. The result of the process is a heat map that clearly outlines the presence and localization of hotspots. The efficacy of the proposed algorithm is validated on a measured and a simulated example.
机译:这封信描述了一种新的自动扫描算法,用于识别电子系统的平面近场轮廓中的热点(电或磁近场值高于特定阈值的区域)。该算法顺序确定应在其中执行实验测量的一组最佳扫描坐标。该过程的结果是一个热图,清楚地勾勒出了热点的存在和位置。通过实测和仿真实例验证了所提算法的有效性。

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