首页> 外文OA文献 >1.5×10-9 Ω·cm2 contact resistivity on highly doped Si:P using Ge pre-amorphization and Ti silicidation
【2h】

1.5×10-9 Ω·cm2 contact resistivity on highly doped Si:P using Ge pre-amorphization and Ti silicidation

机译:Ge预非晶化和Ti硅化作用在高掺杂Si:P上的接触电阻率为1.5×10-9Ω·cm2

摘要

status: published
机译:状态:已发布

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号