首页> 外文OA文献 >Manifestation of ripples in free-standing graphene in lattice images obtained in an aberration-corrected scanning transmission electron microscope

【2h】

Manifestation of ripples in free-standing graphene in lattice images obtained in an aberration-corrected scanning transmission electron microscope

机译：像差校正扫描透射电子显微镜获得的晶格图像中独立石墨烯中波纹的表现

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Bangert U; Gass MH; Bleloch AL; Nair RR; Geim AK;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2009
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. 先进的电子断层扫描技术在材料科学中的发展--基于透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜 [J] . 李茂华, 杨延清, 黄斌, 中国有色金属学报（英文版） . 2014,第010期
2. 先进的电子断层扫描技术在材料科学中的发展——基于透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜 [J] . 李茂华, 杨延清, 黄斌, 中国有色金属学报：英文版 . 2014,第010期
3. Manifestation of ripples in free-standing graphene in lattice images obtained in an aberration-corrected scanning transmission electron microscope [J] . U. Bangert, M. H. Gass, A. L. Bleloch, Physica status solidi . 2009,第6期

机译：像差校正扫描透射电子显微镜获得的晶格图像中独立石墨烯中波纹的表现
4. Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope [J] . Nellist PD, Cosgriff EC, Behan G, Microscopy and microanalysis: The official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada . 2008,第1期

机译：双像差校正透射电子显微镜中扫描共聚焦电子显微镜的成像模式
5. E-beam manipulation of Si atoms on graphene edges with an aberration-corrected scanning transmission electron microscope [J] . Ondrej Dyck, Songkil Kim, Sergei V.Kalinin, 纳米研究（英文版） . 2018,第012期

机译：像差校正扫描透射电子显微镜对石墨烯边缘的Si原子进行电子束处理
6. Current Developments of Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope [C] . P.Wang, A.I. Kirkland, P.D. Nellist, Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting . 2012

机译：双像差校正透射电子显微镜中扫描共聚焦电子显微镜的最新进展
7. Three-dimensional imaging in an aberration-corrected scanning transmission electron microscope [D] . Xin, Huolin. 2011

机译：像差校正扫描透射电子显微镜中的三维成像
8. Single-Digit Nanometer Electron-Beam Lithography with an Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope [O] . Fernando E. Camino, Vitor R. Manfrinato, Aaron Stein, 2018

机译：单数字纳米电子束光刻和像差校正扫描透射电子显微镜
9. Environmental Real Time Imaging with 200kV FE Aberration-corrected Analytical Scanning Transmission Electron Microscope (ESTEM) System with an Open Window Gas Injection [O] . H. Inada, H. Kikuchi, A. Hanawa, 2018

机译：具有200kV Fe像差校正分析扫描透射电子显微镜（estem）系统的环境实时成像，具有开放式窗口气体注入

Manifestation of ripples in free-standing graphene in lattice images obtained in an aberration-corrected scanning transmission electron microscope

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅