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【2h】

Error rate and power dissipation in nano-logic devices

机译:纳米逻辑器件的错误率和功耗

摘要

Current-controlled logic and single electron logic processors have been investigated with respect to thermal-induced bit error. A maximal error rate for both logic processors is regarded as one bit-error/year/chip. A maximal clock frequency and an information channel capacity at a given operation current are derived when a current-controlled logic processor works without error. An available operation range in a current-controlled processor with 100 million elements is discussed. The dependence of an error-free condition on temperature in single electron logic processors is derived. The size of the quantum dot of single electron transistor is predicted when a single electron logic processor with the a billion single electron transistors works without error at room temperature.
机译:电流控制逻辑和单电子逻辑处理器已针对热引起的位错误进行了研究。两个逻辑处理器的最大错误率被认为是一个误码/年/芯片。当电流控制逻辑处理器正常工作时,可以得出给定工作电流下的最大时钟频率和信息通道容量。讨论了具有1亿个元素的电流控制处理器中的可用操作范围。得出了单电子逻辑处理器中无错误条件对温度的依赖性。当具有十亿个单电子晶体管的单电子逻辑处理器在室温下正常工作时,可以预测单电子晶体管的量子点的大小。

著录项

  • 作者

    Kim Jong Un;

  • 作者单位
  • 年度 2005
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en_US
  • 中图分类

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