机译：从卢瑟福反向散射数据确定离子束混合双层系统中的原子深度分布
机译：使用模拟退火和马尔可夫链蒙特卡洛算法对SiGe系统进行高分辨率的卢瑟福反向散射数据和误差分析
机译：重复分层蚀刻后通过全反射X射线荧光分析和卢瑟福背散射光谱法确定的钴注入硅晶片的浅层轮廓比较
机译：根据剖面数据确定海洋混合层深度
机译：使用原子序数对比扫描透射电子显微镜和卢瑟福背散射光谱技术对硒化镉纳米晶体系统进行原子能级表征。
机译：磷脂酰丝氨酸的钙诱导的聚类的原子查看混合脂双层
机译：直接从卢瑟福提取的原子深度剖面分析 共溅射和离子辐照au-Ni薄膜的反向散射数据
