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Développement d'une méthode d'analyse quantitative du quartz dans différentes matrices par diffraction des rayons X combinée à la méthode Rietveld

机译:结合Rietveld方法的X射线衍射定量分析不同基质石英的方法的开发

摘要

La silice cristalline quartz est l'une des substances causant le plus de décès reliés aux substances chimiques en milieu de travail au Québec. Les différents intervenants québécois en hygiène du travail aimeraient dans de nombreux cas connaître son pourcentage dans les matériaux dans le but d'optimiser leur plan d'interventions en milieu de travail. La provenance des échantillons étant aussi variée que les mines, les industries des produits en pierre, les sablières et gravières, ces matrices ajoutent une complexité à la quantification de la silice cristalline dans une large gamme de concentrations allant de 0 à 100 % (p/p). Puisqu'il existe différents polymorphes de la silice cristalline et qu'elle est aussi fréquente sous forme amorphe, une technique permettant la distinction entre ces différentes formes doit être utilisée. Le but premier de cette étude était donc de développer une méthode de quantification du quartz, le polymorphe le plus abondant de la silice cristalline. Cette méthode doit convenir à plusieurs types de matrice et permettre une bonne exactitude sur la quantification du quartz sur une large gamme de concentrations. Afin de pouvoir être éventuellement utilisée dans le cadre d'analyses routinières, la méthode devait s'avérer simple d'exécution et relativement rapide. Une procédure standard a donc été mise sur pied utilisant la diffraction des rayons X sur poudre combinée à la méthode Rietveld automatisée. Des échantillons simulés de matrices diverses et de concentrations variables en quartz ont permis d'optimiser chaque étape de la méthode, du montage de l'échantillon à l'affinement Rietveld en passant par les conditions d'analyse. À la suite de tests sur dix-neuf échantillons, une erreur absolue moyenne de 1,07 % (p/p) a été trouvée pour la concentration de quartz ainsi qu'une limite de détection de 0,24 % (p/p). La qualité des résultats obtenus confirme que cette méthode s'avère efficace pour la quantification du quartz à plusieurs concentrations et dans différentes matrices. L'erreur doit toutefois être diminuée pour pouvoir aspirer à la quantification fiable de très faibles quantités de quartz. La méthode est simple et permet l'analyse complète d'un échantillon en moins d'une heure, une certaine expérience est toutefois nécessaire pour valider les résultats obtenus. ud______________________________________________________________________________ udMOTS-CLÉS DE L’AUTEUR : Diffraction des rayons X, Méthode Rietveld, Quartz, Analyse quantitative.
机译:石英晶体二氧化硅是魁北克工作场所最致命的与化学物质有关的物质之一。魁北克各职业卫生工作者在许多情况下都想知道他们在材料中所占的百分比,以便优化他们在工作场所的干预计划。样品的来源多种多样,例如矿山,石材产品行业,沙坑和砾石坑,这些基质在从0到100%的广泛浓度范围内对结晶二氧化硅的定量分析增加了复杂性(p / p)。由于结晶二氧化硅有不同的多晶型物,并且在无定形形式中也很常见,因此应使用允许区分这些不同形式的技术。因此,这项研究的主要目的是开发一种定量石英的方法,石英是晶体二氧化硅中含量最多的多晶型物。该方法必须适用于多种类型的基质,并在宽浓度范围内定量石英时具有良好的准确性。为了能够在常规分析中使用,该方法必须证明易于执行且相对较快。因此,使用粉末X射线衍射结合自动Rietveld方法建立了标准程序。从不同的基质到可变的石英浓度的模拟样品,都可以优化该方法的每个步骤,从安装样品到Rietveld精制,再经过分析条件。在对19个样品进行测试后,发现石英浓度的平均绝对误差为1.07%(w / w),检出限为0.24%(w / w) 。所获得结果的质量证实,该方法证明了在几种浓度和不同基质中定量石英的有效方法。但是,必须减小误差,以便能够可靠地定量非常少量的石英。该方法很简单,可以在不到一个小时的时间内完成样品的完整分析,但是需要一些经验来验证获得的结果。 ud作者的关键词:X射线衍射,Rietveld方法,石英,定量分析。

著录项

  • 作者

    Martin Joannie;

  • 作者单位
  • 年度 2012
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"fr","name":"French","id":14}
  • 中图分类

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