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【2h】

Effect of High Temperature on the Impact Ionization of N-Channel Fully Depleted SOI MOSFET

机译：高温对N沟道全耗尽SOI MOSFET碰撞电离的影响

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K. Ullah S. Riaz M.Habib F. Abbas S. Naseem G. Abbas;
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年度 2014
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