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【2h】

Measuring Charge State at the Single-Atomic-Column-Base with Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy

机译：用四维扫描透射电子显微镜测量单原子柱底座的充电状态

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Wenpei Gao; Chris Addiego; Huaixun Huyan; Xiaoqing Pan;
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年度 2019
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