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机译:逻辑合成对数字集成电路软误差率的影响
Daniel B. Limbrick;
机译:电源电压和频率对逻辑电路软错误率的影响
机译:神经元MOS二进制逻辑集成电路。一,设计基础和软硬件逻辑电路的实现
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机译:逻辑综合对数字集成电路软错误率的影响
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机译:数字集成电路的软错误率(sER)分析
机译:(54)标题:用于加速模拟到数字转换的方法和系统(57)摘要:公开了用于加速与模拟到数字信号转换相关的处理的技术。在各种实施例中,为与模数转换器一起使用的采样保持和跟踪保持电路提供了加速处理。在各种实施例中采用缩写的采样状态,缩写的复位状态或两者。通过加速处理以避免需要等待信号稳定在预定公差内,可能会引起不同类型的错误。此类误差是在校准期间确定的,并存储以供将来检索和误差补偿。公开了用于在线和离线校准的技术,由此校准可以或可以不影响正常的信号转换处理。本文公开的技术在模数转换中具有广泛的适用性,并且可以在各种情况下实现更快的处理。
机译:软错误硬集成电路的电路和布局设计方法以及逻辑单元
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