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机译:基于硅球的XRF和XPS对XRF和XPS的表面分析,基于硅球的千克实现
Edyta Beyer; Michael Kolbe; Matthias Müller; Erik Darlatt;
机译:通过组合XRF和XPS分析来定量表面表征硅球和XPS分析的测定脂肪添加恒定
机译:用于确定Avogadro常数的硅球上的表面层杂质
机译:XRF和XPS分析Si球的表面层
机译:通过XRF和XPS结合分析确定Avogadro常数的硅球表面表征
机译:探索新型硅器件,以实现用于公用事业(水,天然气和电力)监控的基于MEMS的微系统。
机译:氢化硅(111)表面上接枝的2-和3-氨基硫酚的XPS分析
机译:使用28SI富集的球体实现新的公斤,并在NMIJ时传播质量标准
机译:XPS XRF硅锗厚度和组成测定使用组合XPS和XRF技术确定
机译:XPS和XRF结合使用XPS XRF硅锗厚度和成分测定
机译:结合使用XPS和XRF技术确定硅锗的厚度和成分
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