机译:使用角度分辨的X射线光电子光谱法测定共价连接到氧化硅表面上的脂族醇单层的厚度
机译:使用角分辨X射线光电子能谱法确定共价附着于氧化硅表面的脂肪族醇单层的厚度
机译:角分辨X射线光电子能谱法测定Au(111)上十二烷硫醇自组装单分子膜的厚度
机译:ISO / TC 201标准摘要:ISO 14701:2011-表面化学分析-X射线光电子能谱-氧化硅厚度的测量
机译:用于仿真表面分析的电子光谱(Sessa)的新NIST数据库:在硅上的HFO2,ZrO2,HFSIO4和ZRSIO4薄膜的角度分辨X射线光电子能谱应用
机译:通过角分辨X射线光电子能谱,零椭偏法和电容电压测量研究氧化物/硅界面的结构和电学性质
机译:角分辨X射线光电子能谱研究Al2O3封端的GaN / AlGaN / GaN异质结构的表面极化
机译:X射线光电子能谱厚度测定金属表面上的薄氧化物层。