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机译:使用卡在ATPG工具生成过渡故障的诊断测试
Yoshinobu HIGAMI; Satoshi OHNO; Hironori YAMAOKA; Hiroshi TAKAHASHI; Yoshihiro SHIMIZU; Takashi AIKYO;
机译:使用停留在ATPG工具的过渡故障诊断测试的生成
机译:使用卡在故障检测工具的过渡延迟故障诊断测试生成
机译:使用固定式ATPG工具生成过渡故障的诊断测试
机译:使用传统的基于故障卡住的自动测试模式生成工具来最大化非目标缺陷检测。
机译:基于环形计数器的ATPG用于低转换测试模式生成
机译:具有单滞留故障组合式ATPG的非循环时序电路的测试生成
机译:用于集成电路设计的有效卡死故障和过渡延迟故障截断扫描测试图案的生成方法
机译:用于参数故障的自动测试模式生成(ATPG)
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