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【2h】

Atom Counting in Atom Probe Tomography Specimens Using Quantitative HAADF-STEM

机译：使用定量HAADF-STEM在原子探测断层扫描标本中计数原子

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W. Lefebvre;
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年度 2013
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2. Annealing-induced precipitate formation behavior in MOVPE-grown GaAs1-xBix explored by atom probe tomography and HAADF-STEM [J] . Wood Adam W., Chen Weixin, Kim Honghyuk, Nanotechnology . 2017,第21期

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3. Quantitative binomial distribution analyses of nanoscale like-solute atom clustering and segregation in atom probe tomography data [J] . Moody MP, Stephenson LT, Ceguerra AV, Microscopy research and technique . 2008,第7期

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